W maju 2007 r w Instytucie Metalurgii Żelaza zainstalowany został wysokorozdzielczy, skaningowy mikroskop elektronowy Inspect F, wyposażony w działo z emisją polową Schottky'ego.

Mikroskop wyposażony jest w detektory SE, BSE, EDS, WDS i EBSD. Napięcie przyspieszające wiązki elektronów wynosi od 200V do 30kV. Rozdzielczość dla detektora SE wynosi 1.2 nm przy 30kV oraz 3.0 nm przy 1kV, natomiast dla BSE 2,5 nm przy 30 kV. Zakres możliwych do uzyskania powiększeń mikroskopu wynosi od 12 do 2 000 000x.

Detektory EDS i WDS umożliwiają precyzyjne wykonywanie badań mikroanalizy składu chemicznego materiałów. Przetwarzanie danych uzyskanych za pomocą detektora EBSD (dyfrakcja elektronów wstecznie rozproszonych) pozwala uzyskać wiele informacji dotyczących budowy krystalograficznej materiału, m.in. dotyczących rozmiaru ziarna, jego orientacji, kształtu, typu granic ziarn, wielkości kątów dezorientacji oraz ich rozkładu, jak również tekstury.

Wraz z mikroskopem Inspect F w Instytucie zainstalowano również urządzenie Gatan 682 PECS (Precision Etching Coating System) do precyzyjnego jonowego polerowania, trawienia i napylania próbek. Jest to urządzenie przeznaczone do przygotowania próbek na potrzeby badań z użyciem skaningowych mikroskopów elektronowych SEM i FESEM, transmisyjnych mikroskopów elektronowych (TEM) oraz mikroskopów świetlnych.