Mikroskop został uruchomiony w 2010 roku w Laboratorium Badań Właściwości i Struktury Materiałów IMŻ.
Mikroskop skaningowo-transmisyjny (S/TEM) Titan 80-300 firmy FEI jest wyposażony w:
- polowe działo elektronowe X-FEG o podwyższonej jasności (>5·107 A·m-2·sr-1V-1) i energii elektronów w zakresie 80-300 kV
- korektor aberracji sferycznej (Cs) soczewki obiektywowej (korektor obrazowy)
- spektrometr dyspersji energii (EDS) firmy EDAX o rozdzielczości 130 eV
- zewnętrzny filtr energii kinetycznej elektronów Tridiem 863P firmy Gatan o rozdzielczości 0,8 eV do spektroskopii EELS i obrazowania EFTEM
- układ trzech detektorów BF/HAADF/ADF do trybu skaningowego (STEM)
- dwie kamery CCD UltraScan 1000P o rozdzielczości 2k x 2k pikseli firmy Gatan
- uchwyt o szerokim polu widzenia do tomografii elektronowej TEM wraz z oprogramowaniem do sterowania i do rekonstrukcji 3D
- soczewkę o niskim polu magnetycznym do mikroskopii Lorentza
- bezolejowy system próżniowy
Działo XFEG pracujące w reżimie Schottky'ego zapewnia bardzo wysoką jasność i stabilność wiązki elektronowej, a korektor obrazowy redukuje aberrację sferyczną soczewki obiektywowej do minimum, znacznie poprawiając rozdzielczość mikroskopu. Mikroskop pozwala na prowadzenie obserwacji w trybie klasycznym (TEM) z rozdzielczością poniżej 0,10 nm oraz w trybie skanowania wiązki po powierzchni (STEM) z rozdzielczością do 0,14 nm. Zastosowanie filtra energii elektronów pozwala na uzyskiwanie filtrowanych energetycznie obrazów dyfrakcyjnych (ESD) i mikrostruktury (EFTEM) o znacznie poprawionym kontraście oraz na wykonywanie mikro- i nanoanalizy chemicznej w oparciu o silnie rozwijającą się spektroskopię strat energii elektronów (EELS). Dzięki rozdzielczości energetycznej systemu (ok. 0,8 eV), spektroskopia EELS pozwala nie tylko na analizę składu pierwiastkowego, ale również na identyfikację wiązań chemicznych występujących w nanoobszarach. Implementacja tomografii elektronowej pozwala na uzyskiwanie trójwymiarowych obrazów struktury oraz map składu chemicznego. Mikroskopia Lorentza pozwala na obserwację domen magnetycznych w materiałach ferromagnetycznych. Ponadto, dzięki jednoczesnemu zastosowaniu soczewki Lorentza i korektora obrazowego, możliwe jest obrazowanie struktury materiałów (silnie) magnetycznych z rozdzielczością poniżej 1 nm.