×

Na stronie http://www.imz.pl stosujemy pliki cookies (ciasteczka) w celu gromadzenia danych statystycznych oraz prawidłowego funkcjonowania niektórych elementów serwisu. Pliki te mogą być umieszczane na Państwa urządzeniach służących do odczytu stron. Dalsze korzystanie z naszej strony oznacza, że wyrażają Państwo zgodę na używanie cookies, zgodnie z aktualnymi ustawieniami przeglądarki.

Grupa Badawcza: Badania Właściwości i Struktury Materiałów – BL

Kadra badawcza

Lider Grupy Badawczej: dr hab. inż. Krzysztof Radwański, tel. +48 32 23 45 234, tel. kom. +48 725 222 111, e-mail: krzysztof.radwanski@imz.pl
Zastępca Lidera Grupy Badawczej: dr inż. Radosław Swadźba, tel. +48 32 23 45 201, e-mail: radoslaw.swadzba@imz.pl


dr inż. Jarosław Gazdowicz
dr inż. Zofia Kania-Pifczyk
dr inż. Liwia Sozańska-Jędrasik
mgr inż. Aleksandra Janik
mgr inż. Witosław Kubosz
mgr Paweł Michalik
mgr inż. Radosław Rozmus
mgr inż. Maciej Liśkiewicz
Tomasz Hala
Janusz Kuczmera
Marzanna Marczak
Adam Mazurkiewicz
Piotr Stawarczyk
Czesław Staworko

Wyposażenie badawcze

01_01_www_imz023.jpg

Mikroskop wyposażony jest w detektory SE, BSE, EDS, WDS i EBSD. Napięcie przyspieszające wiązki elektronów wynosi od 200V do 30kV. Rozdzielczość dla detektora SE wynosi 1.2 nm przy 30kV oraz 3.0 nm przy 1kV, natomiast dla BSE 2,5 nm przy 30 kV. Zakres możliwych do uzyskania powiększeń mikroskopu wynosi od 12 do 2 000 000x. Detektory EDS i WDS umożliwiają precyzyjne wykonywanie analizy składu chemicznego materiałów mikroobszarach. Przetwarzanie danych uzyskanych za pomocą detektora EBSD (dyfrakcja elektronów wstecznie rozproszonych) pozwala uzyskać wiele informacji dotyczących budowy krystalograficznej materiału.

01_01_www_imz029.jpg

Dyfraktometr został zakupiony z dotacji Funduszu Nauki i Technologii Polskiej przez Laboratorium Badań Właściwości i Struktury Materiałów IMŻ.Instalację i uruchomienie przeprowadzono w roku 2011.
Zakres oferowanych badań: identyfikacja fazowa związków nieorganicznych w oparciu o corocznie aktualizowaną bazę PDF-4+ ilościowa analiza fazowa metodą Rietvelda, w tym oznaczanie udziału składnika amorficznego precyzyjny pomiar stałej sieciowej.

wersja do druku