×

Ultrawysokorozdzielczy skaningowo-transmisyjny (S/TEM) mikroskop elektronowy TITAN 80-300
01_01_www_imz026.jpg

Mikroskop jest wyposażony w spektrometr dyspersji energii (EDS), zewnętrzny filtr energii do obrazowania EFTEM i do spektroskopii EELS, układ trzech detektorów BF/ADF/HAADF do skaningowego trybu pracy, niskopolową soczewkę Lorentza oraz uchwyt tomograficzny o szerokim polu widzenia. Zakres energii elektronów 80 – 300 keV.

Mikroskop pozwala na prowadzenie obserwacji w trybie klasycznym (TEM) z rozdzielczością punktową 0,21 nm bez korektora obrazowego i <0,1 nm z włączonym korektorem, oraz w trybie skanowania wiązki po powierzchni (STEM) z rozdzielczością 0,14 nm. Zastosowanie filtra energii elektronów pozwala na uzyskiwanie filtrowanych energetycznie obrazów dyfrakcyjnych (ESD) i mikrostruktury (EFTEM) o znacznie poprawionym kontraście oraz na wykonywanie mikroanalizy chemicznej w oparciu o silnie rozwijającą się spektroskopię strat energii elektronów (EELS). Dzięki rozdzielczości energetycznej rzędu 0,8 eV spektroskopia EELS pozwala nie tylko na analizę składu pierwiastkowego, ale również na identyfikację wiązań chemicznych występujących w nanoobszarach. Implementacja tomografii elektronowej pozwala na uzyskiwanie trójwymiarowych obrazów mikrostruktury oraz map składu chemicznego. Mikroskopia Lorentza pozwala na obserwację domen magnetycznych w materiałach ferromagnetycznych. Ponadto, dzięki jednoczesnemu zastosowaniu soczewki Lorentza i korektora obrazowego, możliwe jest obrazowanie mikrostruktury materiałów (silnie) magnetycznych z rozdzielczością <1 nm.

Zakres oferowanych badań:

  • pełny zakres badań i metod standardowej transmisyjnej mikroskopii elektronowej:
    • badania jakościowe i ilościowe metali i niemetali,
    • analiza cząstek, pyłów i proszków,
    • pomiar wielkości i rozkładu obiektów o bardzo małych rozmiarach,
    • preparatyka cienkich folii, replik, przekrojów poprzecznych;
  • określanie nanostruktury i składu fazowego materiałów z rozdzielczością atomową;
  • analiza składu chemicznego materiałów w mikro- i nanoobszarach:
    • wyznaczanie map zawartości pierwiastków (EDS, EELS),
    • identyfikacja wiązań chemicznych (EELS),
    • obrazowanie z kontrastem chemicznym (EELS),
  • badania warstw i granic międzyfazowych,
  • badania materiałów magnetycznych z wysoką rozdzielczością,
  • tomografia elektronowa.


Powrótwersja do druku